WEKO3
アイテム / Transmission electron microscopic observation of nanoindentations made on ductile-machined silicon wafers / 4102
4102
| ファイル | ライセンス |
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 4102.pdf (4.1 MB)
sha256
487e8933905fa33dc188b47acf5a4aef47bcd3f82434299bdbc134fc86a2272f
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| 公開日 | 2016-11-22 | |||||
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| ファイル名 | 4102.pdf | |||||
| 本文URL | https://kitami-it.repo.nii.ac.jp/record/6970/files/4102.pdf | |||||
| ラベル | 4102.pdf | |||||
| フォーマット | application/pdf | |||||
| サイズ | 4.1 MB | |||||
| Version | Date Modified | Object File Name | File Size | File Hash Value | Contributor Name | Show/Hide |
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