@misc{oai:kitami-it.repo.nii.ac.jp:00008845, author = {北見工業大学, 機器分析センター}, month = {Mar}, note = {◆ 巻頭言 機器分析センター長 吉田 孝 ◆ 研究紹介 その場処理を利用したXPS分析による表面反応の精密解析 1 機器分析センター 大津 直史 ◆ 共同利用機器の紹介 MALDI-TOF-MS 6 バイオ環境化学科 多田 清志 ◆ 利用実績 平成20年度 走査型電子顕微鏡を用いて得られた成果一覧 8 平成20年度 核磁気共鳴分光装置を用いて得られた成果一覧 13 平成20年度 X線回析装置および蛍光X線分析装置を用いて得られた成果一覧 17 平成20年度 ガスクロマトグラフ質量分析装置及びイオンクロマトグラフ装置を用いて得られた成果一覧 23 平成20年度 原子吸光分析装置及び誘導結合プラズマ原子発行分析装置を用いて得られた成果一覧 26 平成20年度 透過型電子顕微鏡を用いて得られた成果一覧 29 平成20年度 デジタルハイスピードカメラ及び画像処理装置を用いて得られた成果一覧 30 ◆ 設置機器類 31 ◆ 編集後記 32}, title = {北見工業大学 機器分析センター年報 第7号}, year = {2009} }